産総研 可視光用撮像素子で中赤外線レーザービーム計測 産業技術総合研究所（産総研） , 可視光用半導体撮像素子 , 中赤外線レーザー , ビーム径計測技術 2022年9月12日 産業技術総合研究所（産総研）はこのほど、可視光用半導体撮像素子による中赤外線レーザーのビーム径計測技術を開発した。 材料加工や先端医療分野で コンテンツの残りを閲覧するにはログインが必要です。 お願い Log In. あなたは会員ですか ? 会員について
