日立ハイテク 日立ハイテクの特許「半導体の自動検査を実現する電子顕微鏡」 令和7年度関東地方発明表彰で「文部科学大臣賞」「実施功績賞」を受賞 日立ハイテク , 令和7年度関東地方発明表彰 , 「文部科学大臣賞」と「実施功績賞」を受賞 , 発明協会 2025年11月10日 日立ハイテクは7日、半導体計測技術に関する特許「半導体の自動検査を実現する電子顕微鏡」(特許第7098743号、発明の名称:荷電粒子線システム)について、 コンテンツの残りを閲覧するにはログインが必要です。 お願い Log In. あなたは会員ですか ? 会員について 関連記事 日立とトーエイ 「再生材マーケットプレイス」でAI技術を活用 再生プラスチック配合支援の実証開始 レゾナックとマイクロ波化学 使用済みプラを直接基礎化学品へ再生… 古河電気工業 駅ホームドアの設置用 新型のリサイクル樹脂製 「ケーブルキャビネット」を開発 三洋化成工業 常温の水に混ぜるだけでαゲルを形成するカチオン界面活性剤を開発